XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твёрдых тел РЭМ-2011

31 May - 2 June 2011, Chernogolovka

Rubrics: Symposium | Technology

Activity URL: http://purple.ipmt-hpm.ac.ru/sem/

Description:

XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твёрдых тел РЭМ-2011

31 мая–2 июня 2011 года, Черноголовка, Московская область.

Организаторы:
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (ИПТМ РАН),
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
при участии ООО «Форум-СМ».

Симпозиум посвящен вопросам развития и применения методов сканирующей микроскопии (электронной и зондовой) и аналитических методов исследования в физике твердого тела, материаловедении, нанотехнологии, химии, биологии, медицине.

Научные направления:

  • Приборы и электронная оптика.
  • Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава.
  • Сканирующая зондовая микроскопия.
  • Сканирующая просвечивающая электронная микроскопия.
  • Наноструктуры и нанотехнологии.
  • Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике, нанотехнологии, химии и геологии.
  • Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии.

Крайний срок представления электронных вариантов тезисов докладов, заявок на участие в конференции: 15 декабря 2010 г.

В конференции примут участие студенты и аспиранты базовых кафедр МФТИ, МИСИС, МГТУ им. Баумана.

142432, Московская обл., Черноголовка, ул. Институтская, д. 6, ИПТМ РАН, РКЭМ-2011;
E-mail: giza@iptm.ru.

Deadline date: December 15, 2010

Contact information:
119333, Москва, Ленинский пр., 59, ИК РАН имени А.В. Шубникова, Оргкомитет РКЭМ-2011;
тел.: (495) 135-02-98;
факс: (495) 135-10-11;
E-mail: alla@ns.crys.ras.ru.

Information source: http://elementy.ru/