Научно-практический семинар «Революционные методы исследования поверхности и покрытий: нано-ИК, нано-ТА. Последние достижения АСМ высокого разрешения»
14 March 2014, MoscowRubrics: Seminar | Physics Activity URL: http://www.intertech-corp.ru/newstext.asp?nid=251Description:14 марта 2014 года, Москва, офис INTERTECH Corporation (Ленинский проспект, д. 55/1 стр. 2, 4й этаж)
Для кого предназначен этот семинар:
- Для научных сотрудников — специалистов по исследованию различных материалов, включая композиты, полимеры, материалы для микроэлектроники, новые наноматериалы.
- Для специалистов по АСМ, ИК-микроскопии и термоанализу, которые хотели бы выйти за рамки традиционных областей применений методов и перейти на новый уровень исследований.
В программе семинара:
- Лекции зарубежного специалиста Anasys Instruments об уникальных новых методах на основе атомно-силовой микроскопии: наноИК (ИК-микроскопия на основе АСМ с нанометровым разрешением) и наноТА (термоанализ при помощи локального нагревания через зонд АСМ — сканирующая термическая микроскопия (SThM), микроскопия температур перехода и др. методы термоанализа с нанометровым разрешением).
- Доклад о новейших разработках в области АСМ высокого разрешения: фототермическое возбуждение кантилеверов, SMIM (сканирующая микроскопия импеданса микроволн), новейшие микроскопы Asylum Research с полностью контролируемыми условиями проведения измерений в газовых и жидких средах (Cypher ES).
- Круглый стол и обсуждение возможностей применения современных методов на основе АСМ/СЗМ в материаловедении, исследовании наноструктур, нанокомпозитов, поверхности различных перспективных функциональных материалов.
Участие в семинаре — бесплатное, необходима предварительная регистрация.
Крайний срок представления регистрационных форм: 12 марта 2014 г.
Information source: http://elementy.ru/