Научно-практический семинар «Революционные методы исследования поверхности и покрытий: нано-ИК, нано-ТА. Последние достижения АСМ высокого разрешения»

14 March 2014, Moscow

Rubrics: Seminar | Physics

Activity URL: http://www.intertech-corp.ru/newstext.asp?nid=251

Description:

14 марта 2014 года, Москва, офис INTERTECH Corporation (Ленинский проспект, д. 55/1 стр. 2, 4й этаж)

Для кого предназначен этот семинар:

  • Для научных сотрудников — специалистов по исследованию различных материалов, включая композиты, полимеры, материалы для микроэлектроники, новые наноматериалы.
  • Для специалистов по АСМ, ИК-микроскопии и термоанализу, которые хотели бы выйти за рамки традиционных областей применений методов и перейти на новый уровень исследований.

В программе семинара:

  • Лекции зарубежного специалиста Anasys Instruments об уникальных новых методах на основе атомно-силовой микроскопии: наноИК (ИК-микроскопия на основе АСМ с нанометровым разрешением) и наноТА (термоанализ при помощи локального нагревания через зонд АСМ — сканирующая термическая микроскопия (SThM), микроскопия температур перехода и др. методы термоанализа с нанометровым разрешением).
  • Доклад о новейших разработках в области АСМ высокого разрешения: фототермическое возбуждение кантилеверов, SMIM (сканирующая микроскопия импеданса микроволн), новейшие микроскопы Asylum Research с полностью контролируемыми условиями проведения измерений в газовых и жидких средах (Cypher ES).
  • Круглый стол и обсуждение возможностей применения современных методов на основе АСМ/СЗМ в материаловедении, исследовании наноструктур, нанокомпозитов, поверхности различных перспективных функциональных материалов.

Участие в семинаре — бесплатное, необходима предварительная регистрация.

Крайний срок представления регистрационных форм: 12 марта 2014 г.

Deadline date: March 12, 2014

Contact information:
Вера Неудачина:
тел.: (916) 529-83-85, 8-800-200-42-25;
E-mail: vsn@intertech-corp.ru.

Information source: http://elementy.ru/