XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твёрдых тел РЭМ-2011
31 мая - 2 июня 2011 г., ЧерноголовкаРубрики: Симпозиум | Техника URL мероприятия: http://purple.ipmt-hpm.ac.ru/sem/Описание:
|
31 мая–2 июня 2011 года, Черноголовка, Московская область.
Организаторы:
Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (ИПТМ РАН),
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН
при участии ООО «Форум-СМ».
Симпозиум посвящен вопросам развития и применения методов сканирующей микроскопии (электронной и зондовой) и аналитических методов исследования в физике твердого тела, материаловедении, нанотехнологии, химии, биологии, медицине.
Научные направления:
- Приборы и электронная оптика.
- Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава.
- Сканирующая зондовая микроскопия.
- Сканирующая просвечивающая электронная микроскопия.
- Наноструктуры и нанотехнологии.
- Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике, нанотехнологии, химии и геологии.
- Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии.
Крайний срок представления электронных вариантов тезисов докладов, заявок на участие в конференции: 15 декабря 2010 г.
В конференции примут участие студенты и аспиранты базовых кафедр МФТИ, МИСИС, МГТУ им. Баумана.
142432, Московская обл., Черноголовка, ул. Институтская, д. 6, ИПТМ РАН, РКЭМ-2011;
E-mail: giza@iptm.ru.
тел.: (495) 135-02-98;
факс: (495) 135-10-11;
E-mail: alla@ns.crys.ras.ru.