Орлов В.И.   Feklisova O.V.   Yakimov E.B.  

Investigations of extended defect properties in plqastically deformed Si by the EBIC and LBIC methods

Reporter: Yakimov E.B.

Comments

Name:
Captcha:

6.	Anonymous28.03.2014 19:50 Anonymous comment
5.	Ярыкин Н.А.28.03.2014 19:44 К сожалению, не пояснено (второе предложение) почему одинаковая "физика" приводит к разным изображениям.
4.	Ярыкин Н.А.28.03.2014 19:44 К сожалению, не пояснено (второе предложение) почему одинаковая "физика" приводит к разным изображениям.
3.	Ярыкин Н.А.28.03.2014 19:44 К сожалению, не пояснено (второе предложение) почему одинаковая "физика" приводит к разным изображениям.
2.	Ярыкин Н.А.28.03.2014 19:43 К сожалению, не пояснено (второе предложение) почему одинаковая "физика" приводит к разным изображениям.
1.	Ярыкин Н.А.28.03.2014 19:43 К сожалению, не пояснено (второе предложение) почему одинаковая "физика" приводит к разным изображениям.